作為線路板廠的電測員，我們的核心職責(zé)是通過專業(yè)測試設(shè)備（如飛針測試機、通用測試機等）對覆銅線路板的電氣性能進行全面檢測，確保產(chǎn)品符合設(shè)計規(guī)范和客戶要求。在測試過程中，可能會遇到多種與覆銅線路板相關(guān)的品質(zhì)異常，這些異常通常源于前工序的生產(chǎn)或材料問題。以下是一些電測崗位常見的覆銅線路板品質(zhì)異常類型及簡要分析：
一、 電氣性能類異常
- 開路（Open Circuit）：這是最常見的電測異常之一。表現(xiàn)為線路網(wǎng)絡(luò)中兩點間應(yīng)有的電氣連接斷開。可能原因包括：
- 線路蝕刻不凈或過度蝕刻導(dǎo)致線路斷開。
- 機械鉆孔或激光鉆孔導(dǎo)致的孔內(nèi)銅層斷裂（孔破）。
- 線路在生產(chǎn)過程中受到刮傷、壓傷等物理損傷。
- 鍍銅（如孔銅、面銅）厚度不足或分布不均，在后續(xù)加工中斷裂。
- 短路（Short Circuit）：不應(yīng)連接的兩個獨立線路網(wǎng)絡(luò)之間出現(xiàn)了意外的電氣連通。可能原因包括：
- 蝕刻不充分，導(dǎo)致線路間殘留多余的銅（銅渣）形成橋接。
- 外層線路制作時，干膜或油墨涂布不良，未能有效保護非線路區(qū)域，造成鍍銅或蝕刻異常。
- 離子污染（如電鍍液殘留）在潮濕環(huán)境下導(dǎo)致絕緣電阻下降，形成微短路。
- 線路設(shè)計或加工誤差導(dǎo)致線間距過小。
- 絕緣不良（或稱漏電）：兩個獨立網(wǎng)絡(luò)間的絕緣電阻低于規(guī)定標(biāo)準(zhǔn)。這通常是短路的“前兆”或輕微形式。原因除了潛在的銅渣、污染外，還可能包括基板材料（如FR-4）本身受潮、分層或含有雜質(zhì)。
二、 孔金屬化與連接類異常
- 孔無銅（Plating Void）：導(dǎo)通孔（Via）或插件孔（PTH）內(nèi)壁的銅鍍層不完整或缺失，導(dǎo)致層間無法導(dǎo)通。這是導(dǎo)致開路的典型原因之一，多由鉆孔質(zhì)量差、化學(xué)沉銅（PTH）過程不良（如活化不充分）、電鍍過程異常等引起。
- 孔壁分離（或孔銅撕裂）：孔內(nèi)銅層與孔壁基材結(jié)合力差，在熱應(yīng)力（如回流焊）或機械應(yīng)力下發(fā)生分離，可能造成間歇性開路或可靠性問題。電測時可能表現(xiàn)為良品，但存在潛在失效風(fēng)險。
三、 阻焊與外觀相關(guān)（可能間接引發(fā)電氣問題）
雖然電測主要關(guān)注電氣性能，但某些外觀異常也可能預(yù)示著或直接導(dǎo)致測試失敗：
- 阻焊上焊盤（Solder Mask on Pad）：阻焊油墨覆蓋到了本應(yīng)裸露焊接的焊盤上，將導(dǎo)致后續(xù)焊接不良。若阻焊覆蓋了測試點，則會使電測探針接觸不良，產(chǎn)生誤判（誤報開路）。
- 銅面氧化或污染：如果焊盤或測試點表面嚴(yán)重氧化、或有油污、指紋等污染，會增大接觸電阻，可能導(dǎo)致測試機誤判為高阻或接觸不良。
四、 其他綜合類異常
- 阻抗異常：對于高頻或高速板，控制線路的特性阻抗至關(guān)重要。雖然常規(guī)電測機不直接測阻抗值，但若因線路蝕刻不均、介質(zhì)層厚度偏差等原因?qū)е伦杩箛?yán)重偏離設(shè)計值，可能會在后續(xù)的專用阻抗測試或客戶端應(yīng)用中出現(xiàn)信號完整性問題。相關(guān)的前工序問題（如線寬/線距超差）有時也會在電測中表現(xiàn)為相鄰線路間耐壓不足或漏電。
- 材料缺陷：基板本身存在的局部缺陷，如內(nèi)部分層、夾雜物等，可能在特定條件下引發(fā)線路間短路或絕緣性能下降。
電測員的應(yīng)對與反饋：
發(fā)現(xiàn)上述異常后，電測員不僅需要準(zhǔn)確記錄失效點坐標(biāo)和失效模式（開/短路等），還應(yīng)初步判斷異常的可能類型和區(qū)域分布規(guī)律。及時將信息反饋給前工序（如光繪、蝕刻、電鍍、阻焊等）和質(zhì)量工程師，是推動制程改善、提升整體良率的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。對于疑似誤判（如接觸不良），需進行復(fù)測或采用不同測試條件驗證，確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
電測崗位是覆銅線路板生產(chǎn)流程中至關(guān)重要的質(zhì)量關(guān)卡。熟悉這些常見品質(zhì)異常及其可能成因，有助于電測員更高效、精準(zhǔn)地履行職責(zé)，并為生產(chǎn)過程的質(zhì)量控制提供寶貴的數(shù)據(jù)支持。
